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Páginas VIP de la OIML
Premiados y Cartas de reconocimiento

Existen tres tipos de distinción:

1- Medallas concedidas en reconocimiento a la destacada contribución personal al desarrollo de la metrología legal.
2- Cartas en reconocimiento de un excelente trabajo en proyectos específicos relacionados con la metrología legal.
3- Premio OIML por logros excepcionales en Metrología legal en países en desarrollo.


Medallas

 

2012

    

Pu
Changcheng

Philippe
Leclercq

    
 

2011

    

Lev
Issaev

Jacques
Bourgeois

    
 

2010
    
  

Brian
Beard

Heinz
Wallerus

Nicolai
Zhagora

  
 

2009
    
      

Arnold
Leitner

   
 

2008
    
   

Hiroe
Sakai

Peter
Pakay

   
 

2007

Romain
Eggermont
(Premio recogido
por el
Frans Deleu)

Gérard
Lagauterie

Ali
Tukai

Bruno
Vaucher

 

2006
 

Martin
Birdseye

Manfred
Kochsiek

Attila
Szilvássy

 
 

2005

Ken
Butcher

Li
Chuanqing

Mitsuru
Tanaka

Aart
Kooiman

 

2004
 

John
Anthony

Klaus
Brinkmann

Hajime
Onoda

 
 

2003
 

Knut
Birkeland

Gep
Engler

Jim
Williamson

 
 

2002
   

Dieter
Buer

Detlev
Mencke

   

Cartas de reconocimiento

Galitsyna Lyubov (2012)
Directorate of Metrology, Indonesia (2012)

Mariela Saavedra (2011)
Morteza Pouyan (2011)

Alexey B. Diatlev (2009)
Wilhelm Kolaczia (2009)
Momyshev Talgat Amangeldievich (2009)
Nand Kishore Singhania (2009)

Peter Brandes (2007)
Charles Ehrlich (2007)
Mikhalchenko Vassily Nikolaevich (2007)

Corinne Lagauterie (2006)

Richard Davis (2005)
Michael Gläser (2005)

S.V. Gupta (2004)
Valentina Vytolskaya (2004)
Wilfried Wünsche (2004)

Wim Klein (2003)
G. Volkmann (2003)


Premios por logros excepcionales

Haga clic aquí para consultar la página web de Premios por logros excepcionales