A propos de l'OIML Introduction et Structures Nos Membres Siège (BIML) Pays en Développement Organisations en Liaison Accords de Coopération (MoU) Section VIP et Récompenses Devenir Membre de l'OIML
Publications OIML R, D, V, G, B, E, S Traductions de Publications OIML Projets Finaux de Publications Bulletin CR de Conférences et de CIML Documents de Référence, Brochures
Structures Techniques Comités Techniques (TC/SC) Projets de Comité Sites Web des TC et SC Liaisons Techniques Rapports et Statistiques Notifications OMC OTC
Systèmes OIML Introduction Arrangement d'Acceptation Mutuelle - MAA Certificats enregistrés
Règlementations Nationales Résultats de l'Enquête: OIML R
Réunions, Séminaires, Evénements Réunions OIML Sites web des Conférences et CIML Séminaires OIML Evénements d'Intérêt
Accès Restreint Accès Membres Conseil de la Présidence
Organisation Internationale de Métrologie Légale
Pavant le chemin vers un Système Mondial de Métrologie
BIML · 11, rue Turgot · F-75009 Paris - France · Tél +33 1 48 78 12 82 · Fax +33 1 42 82 17 27
@ Email @ | Staff du BIML | Plan du Site | Infos Locales | Portail Commun OIML-BIPM | Avertissement